X射線熒光光譜儀采用根據(jù)X射線熒光分析原理新設(shè)計(jì)的硬件以及配備豐富軟件數(shù)據(jù)處理裝置，全自動進(jìn)行分析數(shù)據(jù)的管理，非常適合工程管理、研究使用。可同時(shí)分析36種元素，再加上單道掃描型分光器可同時(shí)處理48種元素，實(shí)現(xiàn)了傳統(tǒng)X射線熒光裝置難以做到的數(shù)ppm級的高靈敏度、高精度分析。可快速獲得分析結(jié)果，經(jīng)數(shù)據(jù)處理后，可進(jìn)行質(zhì)量檢驗(yàn)、規(guī)格判斷等，應(yīng)用于生產(chǎn)管理分析（特別是爐前分析）。
X射線熒光是原子內(nèi)產(chǎn)生變化所致的現(xiàn)象。一個(gè)穩(wěn)定的原子結(jié)構(gòu)由原子核及核外電子組成。其核外電子都以各自特有的能量在各自的固定軌道上運(yùn)行，內(nèi)層電子（如K層）在足夠能量的X射線照射下脫離原子的束縛，釋放出來，電子的逐放會導(dǎo)致該電子殼層出現(xiàn)相應(yīng)的電子空位。這時(shí)處于高能量電子殼層的電子（如：L層）會躍遷到該低能量電子殼層來填補(bǔ)相應(yīng)的電子空位。由于不同電子殼層之間存在著能量差距，這些能量上的差以二次X射線的形式釋放出來，不同的元素所釋放出來的二次X射線具有特定的能量特性。這一個(gè)過程就是我們所說的X 射線熒光(XRF) 。
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